簡要描述:美國Trio-Tech 半導(dǎo)體高加速壓力測試系統(tǒng),高加速應(yīng)力測試(HAST)結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時間,以測量元件的可靠性,無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速,在較短的時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封,材料和接頭等缺陷。偏置高加速壓力測試(BHAST)利用與HAST測試相同的變量(高壓,高溫和時間),但增加了電壓偏差。BHAST測試
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品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
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測試箱規(guī)格 | 18*24in | 外尺寸 | 77*108*190cm |
可用空間 | 50*60*48cm | 重量 | 1586kg |
電源要求 | 220V 50Hz | 溫濕度 | 105-133@100RH |
最大壓力 | 56SI | 均勻度 | 1.5度/5% |
功耗 | 2500W@110度 85%RH | 最大裝載 | 50-60kg |
高加速應(yīng)力測試(HAST)結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時間,以測量元件的可靠性,無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速,在較短的時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封,材料和接頭等缺陷。
偏置高加速壓力測試(BHAST)利用與HAST測試相同的變量(高壓,高溫和時間),但增加了電壓偏差。BHAST測試的目標(biāo)是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕,從而加快測試周期。
HAST加速壓力測試與THB測試類似,因為故障是由相同的機制引起的。由此產(chǎn)生的故障以成比例的速率發(fā)生,并且可以在激活引擎之間找到相關(guān)性。電氣設(shè)備/組件更可靠,因此,數(shù)千小時的THB測試無法在短時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)HAST腐蝕故障測試的弱點。
型的HAST測試條件包括110或130°C的溫度,85%RH的濕度和96小時的測試運行時間。一旦高度加速的壓力測試完成,測試的樣品將用防潮袋返回給客戶,并帶有測試時間標(biāo)簽。HAST測試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110,“高加速溫度和濕度壓力測試(HAST)"。
JESD22-A118 (無偏)
JESD22-A110 (偏置)
IEC 60068-2-66
l HAST已被開發(fā)用于取代溫度 - 濕度偏差(THB)測試
l HAST使用110至130 ?C的測試溫度,與THB測試相比,將測試時間縮短至96小時
l 干燥)高溫 130C, 相對濕度 85%, 壓力 33.3 psia
l (濕)高溫110C,相對濕度35%,壓力17.7標(biāo)準(zhǔn)
l 電子學(xué)
l 半導(dǎo)體
l 太陽能
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l 空間應(yīng)用
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